QUC-200型數(shù)顯式磁性測(cè)厚儀執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74,本儀器適于測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。專用于鐵磁性材料表面非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。
主要技術(shù)參數(shù)
1、測(cè)量范圍:0-200μm
2、測(cè)量精度:±(0.7μm+3%H)*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度
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QUC-200型數(shù)顯式磁性測(cè)厚儀執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74,本儀器適于測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。專用于鐵磁性材料表面非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。
主要技術(shù)參數(shù)
1、測(cè)量范圍:0-200μm
2、測(cè)量精度:±(0.7μm+3%H)*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度
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